IEC 61788-6:2000-12

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Teil 6: Messung der mechanischen Eigenschaften Messung der Zugfestikeit von Cu/Nb Ti-Verbundsupraleitern mit Raumtemperatur Teil 6: Messung der mechanischen Eigenschaften Messung der Zugfestikeit von Cu/Nb Ti-Verbundsupraleitern mit Raumtemperatur

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21.07.2000 Historisch
90/82/FDIS:2000-07

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 61788-6:2000-12
Dokumentart
Publikation
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.12.2000
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
DKE/K 184
Kontakt
Referat
Dr. Tim Brückmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach

_z3.s8@vt13r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-364

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

3r8z4r.v292vz3r4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-327

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